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鹽城捷特拉克無(wú)損檢測(cè)設(shè)備有限公司地址：射陽(yáng)縣合德工業(yè)園宏業(yè)路7號(hào)
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磁粉探傷機(jī)施加磁場(chǎng)強(qiáng)度的方法和周向磁化規(guī)范
點(diǎn)擊數(shù)：2076發(fā)布：2016-01-02 來(lái)源: 探傷機(jī)_磁粉探傷機(jī)_熒光磁粉探傷機(jī)_滲透檢測(cè)線_鹽城捷特拉克無(wú)損檢測(cè)設(shè)備有限公司
確定所施加磁場(chǎng)強(qiáng)度的方法
a.由周向磁化規(guī)范、縱向磁化規(guī)范給出的公式計(jì)算所需施加的磁化電流值及安匝數(shù)。
b.用標(biāo)準(zhǔn)試片估計(jì)法估計(jì)所施加的磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小。
c.由毫特斯拉計(jì)測(cè)定所施加的磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小。
2.周向磁化規(guī)范
a.直接通電法、正中心導(dǎo)體法、偏置中心導(dǎo)體法周向磁化規(guī)范推薦如下: ⅰ連續(xù)法 I=12-20D(檢驗(yàn)高磁導(dǎo)率制件的開(kāi)口性缺陷) I=20-32D(檢驗(yàn)高磁導(dǎo)率制件的夾雜物等非開(kāi)口性缺陷及低磁導(dǎo)率制件的開(kāi)口 性缺陷) I=30-40D(檢驗(yàn)較低磁導(dǎo)率制件的夾雜物等非開(kāi)口性缺陷) ⅱ剩磁法: I=30-45D(檢驗(yàn)矯頑力HC≥1kA/m,剩磁Br≥0.8T材料的開(kāi)口性缺陷) 式中:Ｉ——磁化電流,Ｄ——制件直徑,mm;對(duì)非圓柱形制件D=周長(zhǎng)/π;偏置中心導(dǎo)體法制件直徑應(yīng)為中心導(dǎo) 體的直徑加兩倍制件壁厚
b.觸頭法周向磁化: 連續(xù)法:I=3.5-4.5L(板厚δ＜19mm) I=4.0-5.0L(板厚δ≥19mm) 式中I——磁化電流,ＡＬ——兩觸頭間距,mm(推薦觸頭間距為150-200mm) c.環(huán)形件電纜法磁化規(guī)范 按2.4.2a計(jì)算,但要求用安匝數(shù)IN代替I(N為穿過(guò)制件空腔的軟電纜匝數(shù))公司網(wǎng)址：m.51card.net.cn